Nowe produkty

AFM+ 

Mikroskopy AFM z dodatkowymi technikami pomiarowymi i możliwościami. Przykładowe konfiguracje:

4xAFM

AFM+Raman

AFM+IR

AFM+Raman+IR

BioAFM

Nanolitografia

AFM: TERS, SERS, NSOM, SNOM, sSNOM, mK i inne

Podkategorie

  • NSOM&SNOM SPM

    NSOM jest skrótem od Near-field Scanning Optical Microscopy (określane tekże jako SNOM), i jest jednym z najlepszych narzędzi do obserwacji i i manipulacji światłem w nanoskali.

    NSOM jest jedyną metodą optyczną o super rozdzielczości która:

    • Umożliwia wszystkie tryby analizy optycznej: absorpcja, odbicie, transmisja i iluminacja ze źródłem światła już na poziomie 50 nm.  
    • Koreluje topografię próbki ze zmierzonym rozkładem światła.
    • Zapisuje rozkład światła w bliskim polu. Pozwala praktycznie wyeliminować wpływ światła zewnętrznego na pomiar co jest problemem w innych rodzajach standardowych analiz mikroskopowych.   

    Technika NSOM może być zastosowana w szerokiej gamie warunków pomiarowych: od temperatury otoczenia po warunki kriogeniczne - także w cieczach. Firma Nanonics opracowała układy analiz wielosondowych pozwalających na jednoczesną analizę zjawisk powierzchniowych i przypowierzchniowych w zakresie 50-100nm.

    Po dodatkowe informacje zapraszamy na stronę producenta: Poznaj nielimitowany NSOM

  • AFM Raman & TERS

    Systemy AFM Raman do neutralnej integracji z innymi systemami

  • Multiprobe AFM Raman i...

    Systemy wielosondowe do pełnej integracji optycznej z innymi systemami

  • LT (mK) AFM Raman i...

    Wielomodowy system niskotemperaturowy do pełnej integracji z innymi systemami

  • AFM SEM/FIB

    System AFM zintegrowany z SEM/FIB

  • Nanolitografia

    System nanolitografii oparty na technologi Fountain Pen