ezAFM

Specyfikacja techniczna

Mikroskop sił atomowych

• Komercyjnie dostępne dźwignie 
• Zakres skanowania 120x120x40 µm lub 40x40x4 µm
• Tryby pracy: kontakt, obrazowanie dynamiczne/fazowe, siły boczne i MFM
• Poziom szumu 65 fm√Hz 
• Zintegrowany mikroskop optyczny o rozdzielczości 2µm  
• Full HD, 390x230µm FOV, 1920x1080 pixels, 30fps - kamera
• Przetworniki 24Bit ADCs/DACs
• Cyfrowy sygnał sprzężenia zwrotnego dzięki układom FPGA/DSP
• Bezpłatne aktualizacje oprogramowania 
• Nielimitowana liczba licencji użytkownika 
• USB i WiFi
• Wielkość próbki 10x10x5mm (konfigurowalna dla próbek nieograniczonych)

Tryby pomiarowe:

• Intermittent Contact
• Phase Imaging / Phase Contrast
• Contact Mode / Static Force
• Lateral Force Microscopy (LFM)
• Magnetic Force Microscopy (MFM)
• Electrostatic Force Microscopy (EFM)
• Piezo Response Force Microcopy (PRFM)
• Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
• Force Modulation
• Conductive AFM (c-AFM)
• Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)
• Multiple Spectroscopy Modes
• Lithography and Manipulation Modes
• Liquid Modes

Akcesoria:

• 38 mm stroke XY motorized sample positioner
• 2 mm stroke XY manual sample positioner

Zapraszamy na stronę w pełni poświęconą Mikroskopowi Sił Atomowych ezAFM