mikroskop ezAFM

Mikroskop sił atomowych ezAFM od firmy Nanomagnetics Instruments to kompaktowy i prosty w obsłudze dla użytkownika system. Mikroskop umożliwia obserwację powierzchni ciał stałych w powiększeniu  (w trzech wymiarach) oraz wizualizację właściwości nanomechanicznych badanych materiałów. Tego rodzaju sprzęt jest idealnym rozwiązaniem dla pracowni studenckich, szkół średnich, edukacji nanotechnologicznej oraz podstawowych badań w laboratoriach.

Specyfikacja techniczna dla ezAFM:

  • zakres skanowania: 120 x 120 x 40µm lub 40 x 40 x 4µm (XYZ),
  • rozdzielczość w osi Z: < 0,2nm  dla pola skanowania 120μm x 120μm oraz 0,02nm dla pola skanowania 40μm x 40μm,
  • rozdzielczość w osi XY:  < 16nm dla pola skanowania 120μm x 120μm oraz <5 nm dla pola skanowania 40μm x 40μm,
  • poziom szumu: < 65 fm√Hz,
  • dostępne tryby pomiarowe: Contact, Non-Contact, Tapping-Mode, Dynamic / Phase Imaging, Lateral Force & MFM (w pełni konfigurowalne – możliwość zakupu konkretnych trybów pomiarowych),
  • rozmiar próbki: 10 x 10 x 5mm, w pełni konfigurowalne – możliwość badania większych próbek dzięki dodatkowej opcji – zmotoryzowany pozycjoner próbek (zakres ruchu 38 x 38 mm)
  • Full HD, FOV 390×230μm, 2,516×1,960 pikseli, 30fps, kamera wideo,
  • 24Bit ADCs/DACs,
  • Digital Feedback with FPGA/DSP.

 

Więcej informacji znajdą Państwo w karcie katalogowej. W celu uzyskania bardziej szczegółowych informacji proszę o kontakt: karolina@irtech.pl.

 

Strona korzysta
z plików Cookies.
Korzystając ze strony wyrażasz zgodę na ich używanie.